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本课程的主题是芯片天线集成测量方法分析及研究进展。MVG为天线EMC，RCS及天线罩等领域测试提供广泛的测量解决方案，包括：近场，远场和紧缩场天线测量技术。本课程主要介绍芯片天线测量方法分析，包括近场和远场。
史信荣，工学博士，高级工程师。来自广东省计量科学研究院。
